小麦玉米不完善粒测定仪IN-WS10

详细产品介绍及技术参数

1 仪器简介

不完善粒测定仪是以小麦/高粱/大米等作物不完善粒作为测定对象,在自动获取粮食图像后，通过模式识别或深度学习等技术构建神经网络模型，实时分析粮食特征并计算出不完善粒百分比的专用仪器。

2 产品参数

仪器能够按照 GB5GB53、 GB/T 5494、对小麦/高粱/大米/玉米等作物不完善粒及病斑粒、虫蚀粒、破损粒、 生芽粒、生霉粒等分类的定义快速检测不完善粒总量及其分类各项含量。后续通过自主学习可以扩展到多品种作物。

2 检测重量：一次检测量：≥50g。

3 检测速度：每 50g 样品检测时间≤3min。  

4 检测精度：双实验允差： ≤0.5%。

5 检测方法：振动送料，高清图像采集,保留样品的原始状态，对样品无破坏。

6 检测结果：以质量百分比为结果输出方式，检测结果包含不完善粒总量及其分项含量。

7 数据处理与存储：自动完成检测数据处理；存储≥二十万张视频图像照片，存储空间不低于 500GB。

8 显示：7寸或寸屏幕选择，可视化显示界面，触屏功能，直观的菜单导航，整合帮助功能。

9 输出：USB2.0 输出接口和网线接口。数据自动保存，提供历史检测记录的快捷导出功能。

系统启动时间：≤in。菜单语言：中文等。

环境适应性：温度：0℃-50℃；湿度：≤85%。

环境适应性 温度：0℃-40℃；湿度：≤ 85%。

供电 AC220V±20V,50Hz/60Hz

功耗：功率不高于 800W。

3 仪器配置最低要求

2.不完善粒检测主机 台。

2.2 内置电脑台及相应 的操作软件 套。

2.3 使用说明书。

2.4 出厂合格证。